SNJ54ABT8646FK

Номер детали:
SNJ54ABT8646FK
Категории товаров:
-
Производитель:
Texas Instruments
Описание:
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28-LCCC
Упаковка:
-
Упаковка:
Tube
Количество:
0
Статус RoHS:
Поддержка
Поделиться:
PDF:

Минимальный объем заказа:0

Количество Цена Общая стоимость
-

Параметры продукта

Статус детали Active
Тип монтажа Surface Mount
Рабочая температура -55°C ~ 125°C
Количество битов 8
Напряжение питания 4.5V ~ 5.5V
Логический тип Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
Корпус 28-CLCC
Поставщик Устройство Корпус 28-LCCC (11.43x11.43)