SNJ54BCT8245AFK

Número de pieza:
SNJ54BCT8245AFK
Categoría de productos:
-
Fabricante:
Texas Instruments
Descripción:
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28-LCCC
Embalaje:
-
Embalaje:
Tube
Cantidad:
0
Estado RoHS:
Apoyo
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Cantidad Precio Precio total
-

Parámetros del producto

Estado de la Pieza Active
Tipo de Montaje Surface Mount
Temperatura de Operación -55°C ~ 125°C
Número de Bits 8
Tensión de alimentación 4.5V ~ 5.5V
Tipo de Lógica Scan Test Device with Bus Transceivers
Paquete / Carcasa 28-CLCC
Proveedor Dispositivo Paquete 28-LCCC (11.43x11.43)